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更新日期：2024-03-25
簡要描述：
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)品種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 數(shù)顯功能 | 有 | 溫控功能 | 無 |
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150
一種在近紅外區(qū)域具有峰值的光纖光源設(shè)備。
通過將其與專yong光學(xué)系統(tǒng)和對近紅外區(qū)域敏感的相機(jī)配合使用，它非常適合無損檢測，例如Si晶圓的內(nèi)部檢測和背面圖案的觀察。
專yong選件
*可以安裝波長選擇帶通濾波器
*可以安裝機(jī)械快門*可以安裝
256級數(shù)字調(diào)光板
* Ana-Digi調(diào)光板（控制電壓（0-5V）
*并行調(diào)光板（并行8位數(shù)字信號） ）
*串行調(diào)光板（RS232C串行8位數(shù)字信號）
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150
模型 | SIS-150-近紅外 | SIS-150-AIR |
額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
額定輸入頻率 | 50/60赫茲 | 50/60赫茲 |
照明方式 | 直流照明方式 | 直流照明方式 |
光線強(qiáng)度調(diào)整 | 可變輸出電壓可變 | 可變輸出電壓可變 |
保護(hù)功能 | 過電流保護(hù)電路（通過再次打開電源進(jìn)行恢復(fù)）過電流 | 過電流保護(hù)電路（通過再次打開電源進(jìn)行恢復(fù)）過電流 |
冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 |
工作溫度/濕度 | 0°C至40°C / 20％-80％RH（但無凝露） | 0°C至40°C / 20％-80％RH（但無凝露） |
功能 | 燈泡燒毀信號輸出：集電極/發(fā)射極開路 | 燈泡燒毀信號輸出：集電極/發(fā)射極開路 |
外形尺寸 | W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突起） | W124 x H165 x D224 mm（尺寸不包括突起） |
重量 | 約2.7kg | 約2.7kg |
照射波長 | 400-1100nm | 400-1700nm |
峰值波長 | 800納米 | 1000納米 |
導(dǎo)光板 | 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 | 專yong耐熱光導(dǎo) |
