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日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1405
日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1281
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性，因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片（低功耗測量） 超高速 0.7msec.（代表值）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1316
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1361
日本imt獨立負載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式，可自由設置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉數(shù)，所以可以在相同的轉數(shù)下對支架和盤進行拋光，并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1622
日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2 用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉機。 拋光非嵌入樣品時，可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上，實現(xiàn)自動拋光。 非常適合長時間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1784
日本imt實驗拋光機組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機 IM-P2 的樣品旋轉機。 拋光嵌入樣品時，將 SP-L1 連接到拋光機 IM-P2 以啟用自動拋光。 由于可以改變磁頭轉速，因此可以以相同的轉速對支架和光盤進行拋光，防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀，并且可以在不失去平行度的情況下進行研磨。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1543
日本imt臺式樣品拋光機 IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設備。通過改裝樣品旋轉機也可以實現(xiàn)自動化。 工作臺高度便于更換圓盤并用手拋光。 搭載了即使在高轉速和低速范圍內(nèi)也能產(chǎn)生強大扭矩的電機！
更新日期：2024-03-20 訪問量：1624
低價納米粒子生產(chǎn)設備 直流電弧電源300A，濾波器-1 片RP GHP-150與OMT，循環(huán)泵100L /分鐘 皮拉尼真空計（PT-4P），安全閥 水冷電極（與W碼片），納米顆粒熱交換器
更新日期：2025-05-02 訪問量：2433
超細粒子/納米粒子制造設備 超細粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過在氫氣（與氬氣混合）或氮氣等氣體氣氛中通過電弧熔化來強制蒸發(fā)材料以制造超細粒子/納米粒子。它被開發(fā)出來。超細顆粒和納米顆粒的目標材料范圍很廣，包括各種金屬、合金和陶瓷。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2409
日本futaku零件噴嘴內(nèi)表面無損測量儀Arasamir 對于醫(yī)療用分配噴嘴，如果用于預測試的樣品保留在噴嘴內(nèi)，則測試值將波動，并且無法進行準確的樣品分析。 分配噴嘴所需的質量是在內(nèi)表面沒有劃痕或不規(guī)則且沒有殘留物附著的噴嘴。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1811
日本futaku精細零件無損探傷設備Clavelle Elephant 由于自動檢查了放置在通用零件托盤上的微小零件的100，大大減輕了區(qū)分目視檢查的負擔，并提高了檢查工作的效率，并且提高了鑒別精度并使其穩(wěn)定。 它是緊湊型臺式機，是各種小批量零件鑒別檢查的理想選擇。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1874
日本napson手持式探針的電阻測量儀EC-80P 使用手持式探針的手動無損（渦流法）電阻測量儀
更新日期：2025-05-02 訪問量：1527
日本電子技研激光多普勒振動計V100系列 型號名稱V100-LMV100-MSV100-S 測量頻率范圍0.5Hz-300kHz的 速度測量范圍3μm/ s至10 m / s0.05μm/ s至1 m / s0.05μm/ s至0.1 m / s
更新日期：2024-03-20 訪問量：1621
日本port AI敲擊聲音檢查器PDC-100A 從麥克風捕獲要檢查的錘子的敲擊聲，并使用主體內(nèi)部的機器學習功能來確定混凝土結構內(nèi)部是否浮空或剝落。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1567
