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微小領域、曲面、極薄試樣的高速、高精度測量以未有的低成本實現(xiàn)
澀谷光學利用與中國企業(yè)的合作伙伴關系
提供具有高性價比的反射率測量裝置。
光斑尺寸小，可以測量微小點。
測量時背面的光不會滲入，因此不需要使用磨砂玻璃或黑色涂裝進行消光處理。
可測量鏡頭和平面兩者。
操作簡單易用，軟件界面也簡潔。
可視光和UV采用背面照射型CCD傳感器，實現(xiàn)了高靈敏度和信噪比
紅外線采用InGaAs傳感器，對紅外區(qū)域具有高靈敏度。
通過采用特殊半反鏡，可以切割背面反射光，無需背面處理即可在短時間內(nèi)進行準確測量。
（可測量薄板0.2㎜的反射率：使用×20倍物鏡時）
鏡頭曲面、鍍膜不均也能測量。（在試樣面上連接微小斑點（直徑50μm））
即使是對低反射樣品也能在短時間內(nèi)進行高再現(xiàn)性的測量。（通過的光學設計最大限度地利用光線，512像素的線性PDA，
16位 A/D轉(zhuǎn)換器內(nèi)置，USB2.0接口高速運算實現(xiàn)快速測量）
可以進行色度測量、L*a*b*測量。基于分光反射率，可以進行物體測量。
可以以Microsoft Excel(R)格式保存數(shù)據(jù)。
可以對單層膜進行非接觸、非破壞性測量。
同一畫面內(nèi)可顯示多個測量結(jié)果，具有顯示功能。測量結(jié)果的比較變得容易。
| 型番 | MSP-100B MSP-100IR MSP-100UV |
|---|---|
| 測定波長 | MSP-100B: 350～1100nm MSP-100IR: 900～1700nm MSP-100UV: 230～800nm |
| 測量再現(xiàn)性(B型) | ±0.2％(380～450nm) ±0.02％(451～950nm) ±0.2％(951～1050nm) |
| 測定S/N比(B型) | 1000:1（400nm-900nm） |
| 試料側(cè)N.A. | N.A. 0.12（10×物鏡使用時） |
| 試料的測量范圍 | φ50μm（10×物鏡使用時） |
| 試料的曲率半徑 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 表示分解能 | 1納米 |
| 測定時間 | 數(shù)秒～十數(shù)秒（采樣時間有所不同） |
| 外形寸法 | (寬)230×(高)605×(深)510毫米（僅本體） |
| 重量 | 15千克 |
| 電源單元 | 供給電源：100-240VAC 消耗功率：80W 輸出燈電壓：5-10VDC 外形尺寸：(W)231×(H)130×(D)220mm 重量：2.5KG 使用溫度范圍：18～28℃ 使用濕度：60％以下(無冷凝現(xiàn)象 |
